文献类型：期刊文章

作　　者：王新柯[1] 张岩[1]

Wang Xinke;Zhang Yan(Beijing Key Lab for Metamaterials and Devices,Department of Physics,Capital Normal University,Beijing 100048,China)

机构地区：[1]首都师范大学物理系,超材料与器件北京市重点实验室,北京100048

出　　处：《光电工程》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(11474206,11404224,11774243,11774246)。

年　　份：2020

卷　　号：47

期　　号：5

起止页码：24-41

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD2019_2020、IC、JST、PROQUEST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：作为太赫兹技术中的重要组成部分,太赫兹脉冲焦平面成像一经问世就引起了行业内的广泛关注,人们引入了各种方法去提升此成像技术的测量性能,同时也尝试将此成像技术应用于不同的工业和基础研究领域。本文综述了近年来人们对太赫兹脉冲焦平面成像的技术改良和应用研究,包括提升成像系统的空间分辨率、信噪比、信息获取能力,以及将此成像技术应用于光谱识别检测、超表面器件功能验证、太赫兹特殊光束测量、太赫兹表面波观测等,希望该综述能够推动太赫兹脉冲焦平面成像的进一步技术革新和应用拓展。

关 键 词：太赫兹 焦平面成像 分辨率 超表面  

分 类 号：O441.4] O433.1[物理学类]