文献类型：期刊文章

作　　者：田梦雅[1] 张卫平[1] 谷留涛[1] 刘朝阳[1] 薛冰[1]

TIAN Mengya;ZHANG Weiping;GU Liutao;LIU Zhaoyang;XUE Bing(National Key Lab.of Science and Technol.on Micro/Nano Fabrication,Key Lab.for Thin Film and Microfabrication of the Ministry of Education.Department of Micro and Nano Electron.,School of Electronic Information and Electrical Engin.,Shanghai Jiao Tong University,Shanghai 200240,CHN)

机构地区：[1]上海交通大学电子信息与电气工程学院微纳电子学系,微米/纳米加工技术国家级重点实验室,薄膜与微细技术教育部重点实验室,上海200240

出　　处：《半导体光电》

基　　金：国家自然科学基金项目(61574093);预研基金项目(614280504010317,6140863020202);上海专业技术服务平台项目(19DZ2291103);教育部新世纪优秀人才支撑计划项目(NCET-10-0583).

年　　份：2020

卷　　号：41

期　　号：1

起止页码：54-58

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2017、CAS、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：由SOI片制备的微多环谐振陀螺仪在测试过程中,不可避免地会引入馈通信号,而目前常用的差分检测馈通取消方式高度依赖微陀螺仪和检测电路的对称性,不能有效地消除馈通信号。针对此问题,提出了一种基于反相信号的馈通取消方案,通过在驱动和检测电极之间施加与馈通信号反相的信号,从而抵消馈通效应带来的干扰,该方法理论上可以在不降低驱动力的情况下将馈通信号完全取消。实验结果表明,该方法能有效消除馈通信号对电容检测的影响,谐振峰高度可提高约25倍。

关 键 词：微多环陀螺仪  电容检测 馈通效应  电学模型  馈通取消  

分 类 号：V241.554]