期刊文章详细信息
基于电子设备自动测试系统的通用性设计分析
Design and analysis of universality based on electronic equipment automatic test system
文献类型：期刊文章
Liao Yongjin(Jabil Circuit(Guangzhou)Co.,Ltd.,Guangzhou 510530,China)
机构地区：[1]捷普电子(广州)有限公司
年 份：2020
卷 号：17
期 号：2
起止页码：39-40
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：电子设备产品越来越多,测试的复杂性和精准度要求也更高,为适应电子测试需求,文章详细介绍了自动化测试系统的关键应用技术,阐述了自动测试系统基本原理,提出了测试系统校准的设计方案。自动化测试系统具有标准化、可重复化特点,有效降低了测试人员的劳动强度,大大降低了测试成本,保证了测试效率。
关 键 词：电子设备 自动测试系统 校准 通用性设计
分 类 号：TN06]
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