文献类型：期刊文章

作　　者：罗尹虹[1] 张凤祁[1] 郭红霞[1] Wojtek Hajdas[2]

Luo Yin-Hong;Zhang Feng-Qi;Guo Hong-Xia;Wojtek Hajdas(State Key Laboratory of Intense Pulsed Radiation Simulation and Effect,Northwest Institute of Nuclear Technology,Xi’an 710024,China;Paul Scherrer Institute,Villigen PSI 5232,Switzerland)

机构地区：[1]西北核技术研究院,强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室,西安710024 [2]保罗谢勒研究所,菲林根5232瑞士

出　　处：《物理学报》

基　　金：国家自然科学基金重大项目(批准号:11690043,11690040)资助的课题~~

年　　份：2020

卷　　号：69

期　　号：1

起止页码：334-342

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD2019_2020、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：为实现对纳米DICE(dual interlocked cell)加固器件抗质子单粒子能力的准确评估,通过对65 nm双DICE加固静态随机存储器(static random access memory,SRAM)重离子单粒子翻转试验数据的分析,获取了其在重离子垂直和倾角入射时的单粒子翻转(single event upset,SEU)阈值以及离子入射最劣方位角,并结合蒙卡仿真获取不同能量质子与器件多层金属布线层发生核反应产生的次级粒子LET(linear energy transfer)值最大值以及角度分布特性,对器件在不同能量下的质子单粒子效应敏感性进行了预测,质子单粒子效应实验结果验证了预测方法的有效性以及预测结果的准确性,并提出针对DICE加固类器件在重离子和质子单粒子效应试验评估中均应开展离子最劣方位角下的倾角入射试验.

关 键 词：双双互锁存储单元加固  单粒子翻转 质子 最劣方位角  

分 类 号：TP3[计算机类]