文献类型：期刊文章

作　　者：张露滨[1] 李俊峰[2] 沈军民[3]

ZHANG Lu-bin;LI Jun-feng;SHEN Jun-min(Qixin Honors School,Zhejiang Sci-Tech University,Hangzhou 310018,China;Department of Automation,Zhejiang Sci-Tech University,Hangzhou 310018,China;Department of Electronic Information Engineering,Zhejiang Sci-Tech University,Hangzhou 310018,China)

机构地区：[1]浙江理工大学启新学院,浙江杭州310018 [2]浙江理工大学自动化系,浙江杭州310018 [3]浙江理工大学电子信息工程系,浙江杭州310018

出　　处：《光电子．激光》

基　　金：国家自然科学基金(61374022);浙江省公益性技术应用研究计划项目(LGG18F030001,GG19F030034);金华市科学技术研究计划重点项目(2018-1-027)资助项目

年　　份：2019

卷　　号：30

期　　号：9

起止页码：951-959

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD2019_2020、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、核心刊

摘　　要：针对微型磁瓦图像对比度低、纹理背景复杂、亮度不均匀、缺陷区域小等特点,本文提出了一种微型磁瓦表面线缺陷视觉检测方法。首先,构造自适应静态掩膜,屏蔽微型磁瓦轮廓;其次,采用非线性各向异性扩散方程,抑制微型磁瓦表面纹理;进而,构造动态掩膜自下而上扫描磁瓦图像,提取线缺陷区域;最后,在开发的微型磁瓦视觉检测实验装置上,进行了大量的实验研究。实验结果表明,本文缺陷提取算法能够较准确提取出磁瓦表面图像的线缺陷,表面缺陷检测的准确率为94.6%。

关 键 词：微型磁瓦  掩膜 扩散方程  线缺陷

分 类 号：TP391.41]