文献类型：期刊文章

作　　者：左万娟[1,2] 虞砺琨[1,2] 王小丽[1,2] 黄晨[1,2]

Zuo Wanjuan;Yu Likun;Wang Xiaoli;Huang Chen(Beijing Institute of Control Engineering,Beijing 100190,China;Beijing Sunwise Information Technology Co.Ltd.,Beijing 100190,China)

机构地区：[1]北京控制工程研究所,北京100190 [2]北京轩宇信息技术有限公司,北京100190

出　　处：《计算机测量与控制》

年　　份：2019

卷　　号：27

期　　号：10

起止页码：36-40

语　　种：中文

收录情况：CSA、CSA-PROQEUST、INSPEC、JST、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：作为动态测试充分性的基本评价指标,覆盖率分析只能帮助修正因输入不足而导致的测试用例设计缺陷;针对航天嵌入式软件测试过程中不影响覆盖率统计结果的用例设计缺陷,从测试步骤和预期结果两大测试用例核心要素开展研究,提出十个典型缺陷,分别予以分析,并进行缺陷修正;工程实践证明,这些缺陷的发生率高,具有典型性;修正这些缺陷后,可以有效检出软件设计缺陷;与用例执行后的覆盖率统计数据分析相结合,可以有效提高测试充分性。

关 键 词：测试用例 典型  设计缺陷 覆盖率  

分 类 号：TP311.5]