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期刊文章详细信息

MC/DC准则在嵌入式软件测试中的应用    

Application of MC/DC Criterion in Embedded Software Testing

  

文献类型:期刊文章

作  者:安媛[1] 陆云峰[2]

AN Yuan;LU Yunfeng(State Nuclear Power Automation System Engineering Co.,Ltd.,Shanghai 200241,China;Shanghai Shenergy Chongming Power Generation Co.,Ltd.,Shanghai 202155,China)

机构地区:[1]国核自仪系统工程有限公司,上海200241 [2]上海申能崇明发电有限公司,上海202155

出  处:《自动化仪表》

基  金:国家十二五重大专项基金资助项目(2014ZX06002-007)

年  份:2019

卷  号:40

期  号:6

起止页码:76-79

语  种:中文

收录情况:CAS、CSA、CSA-PROQEUST、INSPEC、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘  要:MC/DC准则被广泛应用于高安全性的嵌入式软件独立验证和确认中,是一种实用而高效的软件结构覆盖率验证准则。基于嵌入式软件测试的特点与MC/DC的基本概念,提出了MC/DC的最小测试集的形成方法。结合工程应用实例,利用自动化测试工具实现MC/DC测试流程。MC/DC准则在核电仪控系统中的成功应用,对于航空、军工、机器人等高安全性和高可靠性领域有着很好的借鉴作用。

关 键 词:嵌入式软件 软件测试 MC/DC 结构覆盖  逻辑控制 仪控  VectorCAST  最小测试用例集

分 类 号:TH-86[机械类]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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