文献类型：期刊文章

作　　者：于丙文[1,2] 金伟[1] 金钦汉[1] 刘旭[2]

YU Bingwen;JIN Wei;JIN Qinhan;LIU Xu(Research Center for Analytical Instrumentation,Hangzhou 310027, China;State Key Laboratory of Modern Optical Instrumentation,Zhejiang University, Hangzhou 310027, China)

机构地区：[1]浙江大学分析仪器研究中心,杭州310027 [2]浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,杭州310027

出　　处：《高等学校化学学报》

基　　金：国家重大科学仪器设备开发专项(批准号:2018YFF01011100)资助~~

年　　份：2019

卷　　号：40

期　　号：5

起止页码：880-886

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD2019_2020、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：基于原子发射光谱信号强度与CCD积分时间和样品浓度之间的线性关系,推导并提出一种信背浓度比(SBCR)的新概念,建立了检出限与SBCR之间的关系.基于合理假设推导出最大积分时间、最大信背比和最大信背浓度比等表达式,并通过实验对模型进行了验证.最后使用SBCR表征了低功率Ar MPT对Cu元素的激发能力,使其检出限由13. 1 ng/m L降低至2. 8 ng/m L.

关 键 词：原子发射光谱 信背比 信背浓度比  

分 类 号：O657]