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期刊文章详细信息

基于二次筛选的电子元器件可靠性研究    

  

文献类型:期刊文章

作  者:薛青青[1]

机构地区:[1]中国兵器工业第二0六研究所

出  处:《电子世界》

年  份:2019

卷  号:0

期  号:9

起止页码:65-66

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:电子元器件是电子系统和设备中最基本的单元,电子元件的有效性影响着整机效用的发挥,每个电路模块的性能都与其可靠性有关,所以在进行使用之前要对电子元件进行筛选。电子元器件的二次筛选是指元件的第一次筛选没有满足要求,而进行第二次合格筛选,来增强电子元件的可靠性,目前对元器件的质量和可靠性要求越来越高,二次筛选成为保障电子元器件可靠性的重要措施。基于此,对二次筛选电子元器件的可靠性进行研究,首先对在元器件安全特征筛选,其次建立可靠性分析规则,来实现基于二次筛选的电子元器件的可靠性研究,最后通过实验对比,证明二次筛的于电子元件可靠性更高。

关 键 词:器件可靠性  二次筛选  电子系统 电子元器件 电子元件 可靠性要求  可靠性分析 元件可靠性  

分 类 号:TN65]

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同被引文献:

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