文献类型：期刊文章

作　　者：薄莉莉[1] 姜淑娟[1] 张艳梅[1] 王兴亚[2] 于巧[3]

BO Li-li;JIANG Shu-juan;ZHANG Yan-mei;WANG Xing-ya;YU Qiao(Mine Digitization Engineering Research Center of the Ministry of Education,School of Computer Science and Technology,China University of Mining and Technology,Xuzhou,Jiangsu 221116,China;State Key Laboratory for Novel Software Technology,Nanjing University,Nanjing 210093,China;School of Computer Science and Technology,Jiangsu Normal University,Xuzhou,Jiangsu 221116,China)

机构地区：[1]中国矿业大学计算机科学与技术学院矿山数字化教育部工程研究中心,江苏徐州221116 [2]南京大学计算机软件新技术国家重点实验室,南京210093 [3]江苏师范大学计算机科学与技术学院,江苏徐州221116

出　　处：《计算机科学》

基　　金：国家自然科学基金(61673384;61502497);南京大学计算机软件新技术国家重点实验室创新项目(ZZKT2018B02);江苏师范大学博士学位教师科研支持项目(17XLR001)资助

年　　份：2019

卷　　号：46

期　　号：5

起止页码：13-20

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2017、CSA、CSCD、CSCD_E2019_2020、IC、JST、RCCSE、UPD、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：多核时代的到来使得并发程序的设计备受人们关注。然而,并发程序的并发性和不确定性容易引发并发缺陷。因此,快速且有效地检测出这些并发缺陷尤为重要。首先,将目前常见的并发缺陷分为五大类(并发类型状态缺陷、死锁、数据竞争、原子性违背和顺序违背);随后,从软件运行的角度,将现有的并发缺陷检测技术分为静态分析、动态分析和动静结合分析,并对每一类进行详细的分析、比较和总结;接着,对并发缺陷检测技术的通用性进行分析和总结;最后,从通用准确的并发缺陷检测、软硬件相结合的并发缺陷检测、并发缺陷检测修复一体化、适用于松散内存模型的并发缺陷检测、安卓等其他应用平台的并发缺陷检测和分布式系统非确定性并发缺陷研究等方面,对并发缺陷检测技术的未来研究进行了探讨。

关 键 词：并发程序 并发缺陷  缺陷检测  软件测试

分 类 号：TP311]