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期刊文章详细信息

电子电路故障检测技术探索    

Exploration of Electronic Circuit Fault Detection Technology

  

文献类型:期刊文章

作  者:刘蓓[1] 赵岩[1]

Liu Bei;Zhao Yan(Xi’an North Jierui Photoelectric Technology Co.,Ltd.,Xi’an Shaanxi,710000)

机构地区:[1]西安北方捷瑞光电科技有限公司,陕西西安710000

出  处:《电子测试》

年  份:2019

卷  号:30

期  号:9

起止页码:134-135

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:我国的电子科技发展十分迅猛,生产出的电子产品也呈现出越来越多的种类和数量。但电子电路在具体服务当中,易受到设备及外界因素的影响,进而发生故障,需压采取科学合理的检测技术,做到对电子电路故障的有效检测与解决。本文阐述了电子电路的常见故障,并提出故障的具体原因,同时就电子电路故障的检测技术展开分析,仅供参考。

关 键 词:电子电路 故障  检测技术  

分 类 号:TN710]

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引证文献:

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同被引文献:

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