文献类型：期刊文章

作　　者：阿丽莉[1,2] 张盼盼[2] 贺攀红[1,2] 杨珍[1,2] 梁亚丽[1,2] 杨有泽[1,2]

A Lili;ZHANG Panpan;HE Panhong;YANG Zhen;LIANG Yali;YANG Youze(Henan Nuclear Industry Radioactive Nuclide Test Centre,Zhengzhou,Henan 450044,China;Henan Province Nuclear Geology,Zhengzhou,Henan 450044,China)

机构地区：[1]河南省核工业放射性核素检测中心,郑州450044 [2]河南省核工业地质局,郑州450044

出　　处：《中国无机分析化学》

年　　份：2019

卷　　号：9

期　　号：2

起止页码：50-53

语　　种：中文

收录情况：CAS、JST、普通刊

摘　　要：采用粉末压片制样-X射线荧光光谱法研究地质样品中硫(S)和氟(F)元素的快速测定方法。通过分级过筛实验优化确定样品粒度,探讨样品粒度对测定结果的影响,并进行实际样品和标准物质验证。结果显示,样品粒度为85μm时,经实际样品和标准物质验证,测定结果与化学值和标准认定值相符,且相对标准偏差(RSD)均小于2%。方法具有准确度高、检出限好、测试范围宽、简便快速等优点,能确保样品分析结果的准确性,实现了地质样品中S和F的快速测定。

关 键 词：X射线荧光光谱法 硫 氟 地质样品

分 类 号：O657.34] TH744.15[化学类]