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多晶硅片PL和电池效率的对应关系 ( EI收录)
Corresponding relation between PL of multicrystalline silicon wafers and solar cell efficiency
文献类型:期刊文章
Liang He;Sheng Cao;Hai Liu;Hua Liu;Hongzhi Luo;Qi Lei;Cheng Zhou;Yunfei Xu(LDK Solar Co.,Ltd. Economic Development Zone,Xinyu 338032,China;National Photovoltaic Engineering Research Center,Economic Development Zone,Xinyu 338032,China)
机构地区:[1]江西赛维LDK太阳能高科技有限公司,新余338032 [2]国家光伏工程技术研究中心,新余338032
年 份:2019
卷 号:64
期 号:9
起止页码:923-927
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2017、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2019_2020、EI、IC、JST、MR、RCCSE、WOS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:采用光致发光(PL)测试仪测试了多晶硅片的PL图像中的各参数与其制备为电池后的转换效率的关系,并分析了电池参数和PL图像参数的相互关系.采用自主编制的一款软件,分析了PL图像的黑丝比例和归一化PL强度参数,并计算对应硅片的数值结果.PL测试完成后,依次顺序制作了太阳能电池,并测试其电池效率和开路电压(V_(oc))等.实验结果表明:V_(oc)和PL图像归一化PL强度相关性良好,但与PL图像黑丝比例相关性差;而电池转换效率与PL图像归一化强度、黑丝比例相关性均不强.其原因是PL光致发光主要测试的硅片材料性能与电池V_(oc)相关,而电池转换效率不仅受硅基材的影响,还受电池工艺的影响,比如制绒工艺、扩散工艺、镀膜工艺等.本文利用半导体相关原理推导出了电池V_(oc)和归一化PL强度的相关性表达式,从原理上证明了归一化PL强度与电池V_(oc)的相关性,表明归一化PL强度与多晶硅片质量具有更高的相关性,更具指导意义.
关 键 词:多晶硅 PL图像 开路电压Voc 电池效率
分 类 号:TM914.4]
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