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期刊文章详细信息

X射线衍射原理及掺杂石墨烯的物相分析    

Principle of X-Ray Diffraction and Phase Analysis of Doped Graphene

  

文献类型:期刊文章

作  者:赵瑶[1] 方国川[1] 魏珍[1] 吴婷婷[1] 田野[1]

ZHAO Yao;FANG Guo-chuan;WEI Zhen;WU Ting-ting;TIAN Ye(School of Sciences,Hebei North University,Zhangjiakou,Hebei 075000,China)

机构地区:[1]河北北方学院理学院物理系,河北张家口075000

出  处:《河北北方学院学报(自然科学版)》

基  金:河北省重点研发计划项目(18391501D);河北北方学院2018年一般项目(2018032)

年  份:2018

卷  号:34

期  号:11

起止页码:10-14

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:目的 X射线衍射技术是一种不损害材料、能够精确测量样品结构信息的测量技术。介绍了X射线衍射(XRD)的工作原理,利用XRD对银/氮掺杂石墨烯的X射线衍射花样进行分析。方法通过氧化还原法(Hummer)制备了氧化石墨烯,利用微波溶剂热法制备了氮掺杂石墨烯,并以氮掺杂石墨烯(N-RGO)作为银纳米粒子的载体,制备了银/氮掺杂石墨烯(Ag/N-RGO)纳米杂化材料。结果通过XRD物相分析得知银纳米粒子为面心立方晶型,明确显示银纳米粒子及氮元素成功掺入石墨烯中。结论研究结果对XRD的表征原理及掺杂石墨烯材料学的发展具有指导意义和实用价值。

关 键 词:X射线衍射 石墨烯 物相分析 氮掺杂石墨烯  银/氮掺杂石墨烯  

分 类 号:O469]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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