文献类型：期刊文章

作　　者：陈美瑜[1] 兰琳[1]

CHEN Meiyu;LAN Lin(College of Materials, Key Laboratory of High Performance Ceramic Fibers,Ministry of Education, Xiamen University, Xiamen 361005,China)

机构地区：[1]厦门大学材料学院高性能陶瓷纤维教育部重点实验室,福建厦门361005

出　　处：《功能材料》

年　　份：2018

卷　　号：49

期　　号：12

起止页码：12217-12220

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD_E2017_2018、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：采用X射线荧光光谱法测定高性能陶瓷中的硅元素含量,系统研究了熔剂、稀释比、脱模剂、熔融温度与时间对测定结果的影响,并分析了产生这些影响的机理。结果表明,当无水四硼酸锂、碳酸锂、样品三者质量比(m(无水四硼酸锂)∶m(碳酸锂)∶m(样品))=8.0∶1.5∶0.2时,在1 050℃下先预熔5min、再摇摆熔融10min,可以获得高质量的熔片。硅的质量浓度在55%～70%时,相关系数为0.9997,方法检出限为0.81%。硅元素的加标质量为0.02g时,加标回收率为98.5%～99.0%。此方法已应用到日常陶瓷样品的检测。

关 键 词：X射线荧光光谱法 硅  陶瓷 先驱体转化法 氟硅酸钾滴定  

分 类 号：O652.1]