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期刊文章详细信息

磁控溅射结合脉冲激光制备钛掺杂硅薄膜的研究(英文)  ( EI收录)  

Study of Titanium-doped Silicon Films Prepared by Magnetron Sputtering and Nanosecond Pulsed Laser

  

文献类型:期刊文章

作  者:王凯[1] 李晓红[1] 张延彬[1] 温才[1] 刘德雄[1]

WANG Kai;LI Xiao-hong;ZHANG Yan-bing;WEN Cai;LIU De-xiong(Joint Laboratory for Extreme Conditions Matter Properties,School of Science,Southwest University of Science and Technology,Mianyang,Sichuan,621000,China)

机构地区:[1]西南科技大学理学院极端条件物质特性联合实验室,四川绵阳621000

出  处:《光子学报》

基  金:The National Natural Science Foundation of China(No.11204250);the Scientific Research Fund of Sichuan Provincial Education Department(No.17CZ0038);the Office of Science&Technology and Intellectual Property of Mianyang(No.16G-01-11);Postgraduate Innovation Fund Project by Southwest University of Science and Technology(No.17ycx071)

年  份:2018

卷  号:47

期  号:9

起止页码:75-82

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2017、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2017_2018、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:发展了一种改进的新型超掺杂工艺,通过真空磁控溅射多层镀膜后结合532nm波长可见纳秒脉冲激光熔融处理,进行超掺杂钛的硅薄膜材料的制备,并对材料的超掺杂层的性质和红外吸收性能进行了探究.结果表明,硅膜层中掺杂的钛原子的百分比浓度超过1%左右,对应钛原子浓度约为5×10^(20) cm^(-3)左右,超过钛在硅中形成超掺杂所对应的原子浓度.钛超掺杂层的厚度超过200nm左右,相对传统工艺具有明显提升,并且钛原子的浓度变化范围不超过20%,分布比较均匀.小角度X射线衍射测试表明经过可见脉冲激光熔融处理后的硅薄膜层材料结晶度为25%左右,呈多晶结构.同时红外吸收谱测试表明,样品的钛掺杂硅膜层在大于1 100nm波长的区域具有很高的红外吸收效果,最高的红外吸收系数达到1.2×10~4 cm^(-1),远超过单晶硅材料.具有比较明显的亚能带吸收的特征,呈现出Ec-0.26eV的掺杂能级.霍尔效应测试表明硅膜层具有较高的载流子浓度,超过了8×10^(18)cm^(-3).

关 键 词:激光物理 脉冲激光 磁控溅射 硅  超掺杂  深能级杂质

分 类 号:O472.3]

参考文献:

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同被引文献:

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