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期刊文章详细信息

高压有机片式钽电容器高温可靠性研究  ( EI收录)  

Research of High Temperature Reliability of High Voltage Organic Chip Tantalum Capacitors

  

文献类型:期刊文章

作  者:田东斌[1,2] 潘齐凤[1] 张选红[1] 马建华[3] 刘桥[2] 杨邦朝[4]

TIAN Dong-bin;PAN Qi-feng;ZHANG Xuan-hong;MA Jian-hua;LIU Qiao;YANG Bang-chao(China Zhenhua(Group)Xinyun Electronic Components and Devices Co.,LTD.Guiyang 550018;China Zhenhua Electronic Group Co.LTD.Guiyang 550018;College of Big Data and Information Engineering,Guizhou University Guiyang 550025;School of Microelectronics and Solid State Electronics,University of Electronic Science and Technology of China Chengdu 610054)

机构地区:[1]中国振华(集团)新云电子元器件有效责任公司,贵阳550018 [2]贵州大学大数据与信息工程学院,贵阳550025 [3]中国振华电子集团有限公司,贵阳550018 [4]电子科技大学微电子与固体电子学院,成都610054

出  处:《电子科技大学学报》

基  金:贵州省工业和信息化发展专项资金计划第一批技术创新项目(2017022);贵州省科学技术计划项目(黔科合:[2016]-2039)。

年  份:2018

卷  号:47

期  号:5

起止页码:761-765

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2017、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2017_2018、EI、IC、INSPEC、JST、MR、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘  要:高压有机固体电解质片式钽电容器的高温特性是限制此类电容器广泛应用的瓶颈,目前国际上普遍采用105℃的温度上限,而不能满足125℃环境下的特殊使用要求。该文通过对电介质进行"屏蔽"和预处理,对有机固体电解质进行后处理和包封层改善,高压有机电解质片式钽电容器的高温特性得到明显改善,能够安全通过105℃、2 000 h和125℃、2 000 h寿命试验。该研究结果将为有机固体电解质片式钽电容器在特殊环境下的应用提供必要的技术支撑。

关 键 词:高温可靠性  高压  聚三四乙烯基二氧噻吩  钽电容器

分 类 号:TN60]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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