文献类型：期刊文章

作　　者：苗建伟[1] 王文军[2] 李斌[2]

MIAO Jianwei;WANG Wenjun;LI Bin(Jilin Engineering Normal University,Changchun 130052,China;CRRC Changchun Railway Vehicles Co.,Ltd.,Changchun 130062,China)

机构地区：[1]吉林工程技术师范学院汽车工程学院,吉林长春130052 [2]中车长春轨道客车股份有限公司,吉林长春130062

出　　处：《电器与能效管理技术》

年　　份：2018

期　　号：4

起止页码：61-65

语　　种：中文

收录情况：普通刊

摘　　要：继电器寿命是评估继电器性能的一个重要指标。以吸合时间作为主要特征参数,设计了一种测试低压继电器寿命的方法。选择BP神经网络算法和灰色理论算法对低压继电器的寿命进行预测分析,通过预测结果评估两种智能算法的预测性能。仿真和试验结果表明,继电器寿命测试系统能够实现对低压继电器寿命的测试。BP神经网络算法波动适应性更好,精度和相关性更高;灰色理论算法预测趋势更加直接明显。

关 键 词：低压继电器  寿命预测  BP神经网络 灰色理论  

分 类 号：TM581]