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晶体硅光伏组件初始光致衰减评估方法研究
Study on evaluation method of initial light reduced degradation of crystalline silicon photovoltaic modules
文献类型:期刊文章
XIAO Tao-yun;SHEN Yan-ping;ZHANG Zhen;WU Jin-lu(State Key Laboratory of PV Science and Technology, Changzhou Trinasolar Energy Limited Company, Changzhou Jiangsu 213031, China;Hohai University, Changzhou Jiangsu 213022, China)
机构地区:[1]常州天合光能有限公司光伏科学与技术国家重点实验室,江苏常州213031 [2]河海大学,江苏常州213022
年 份:2017
卷 号:41
期 号:12
起止页码:1729-1732
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2014、CAS、CSCD、CSCD_E2017_2018、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:光致衰减是掺硼晶体硅组件的常见现象。通过室内稳态模拟实验和室外自然光暴晒实验,研究了晶体硅组件的初始光致衰减现象,定量化分析了晶体硅组件初始光致衰减达稳定时的总辐照量,探讨了负载方式、通风条件等对晶体硅组件初始光致衰减程度的影响。结果表明,单晶组件的初始光致衰减较多晶组件规律性要好;不同负载方式中,组件开路情况下衰减最小,并网与短路方式下基本一致;通风条件的恶劣会加大组件的初始光致衰减程度。
关 键 词:光致衰减 辐照量 暴晒 稳态模拟器
分 类 号:TM914]
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