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期刊文章详细信息

晶体硅光伏组件初始光致衰减评估方法研究    

Study on evaluation method of initial light reduced degradation of crystalline silicon photovoltaic modules

  

文献类型:期刊文章

作  者:肖桃云[1] 沈艳萍[1] 张臻[1,2] 吴晋禄[2]

XIAO Tao-yun;SHEN Yan-ping;ZHANG Zhen;WU Jin-lu(State Key Laboratory of PV Science and Technology, Changzhou Trinasolar Energy Limited Company, Changzhou Jiangsu 213031, China;Hohai University, Changzhou Jiangsu 213022, China)

机构地区:[1]常州天合光能有限公司光伏科学与技术国家重点实验室,江苏常州213031 [2]河海大学,江苏常州213022

出  处:《电源技术》

年  份:2017

卷  号:41

期  号:12

起止页码:1729-1732

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2014、CAS、CSCD、CSCD_E2017_2018、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:光致衰减是掺硼晶体硅组件的常见现象。通过室内稳态模拟实验和室外自然光暴晒实验,研究了晶体硅组件的初始光致衰减现象,定量化分析了晶体硅组件初始光致衰减达稳定时的总辐照量,探讨了负载方式、通风条件等对晶体硅组件初始光致衰减程度的影响。结果表明,单晶组件的初始光致衰减较多晶组件规律性要好;不同负载方式中,组件开路情况下衰减最小,并网与短路方式下基本一致;通风条件的恶劣会加大组件的初始光致衰减程度。

关 键 词:光致衰减  辐照量  暴晒 稳态模拟器  

分 类 号:TM914]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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