文献类型：期刊文章

作　　者：刘琦[1] 李耀芳[1] 彭慧卿[1] 崔军[2] 刘宏伟[2]

LIU Qi;LI Yaofang;PENG Huiqing;CUI Jun;LIU Hongwei(Computing Center,TCU,Tianjin 300384,China;Institute of Electronic and Information Engineering,Tianjin Polytechnic University,Tianjin 300380,China)

机构地区：[1]天津城建大学计算中心,天津300384 [2]天津工业大学电子与信息工程学院,天津300380

出　　处：《天津城建大学学报》

基　　金：天津城建大学教育教学改革研究项目(JG-1414);天津市教委科研计划项目(20140718;20140805)

年　　份：2016

卷　　号：22

期　　号：4

起止页码：298-301

语　　种：中文

收录情况：AJ、普通刊

摘　　要：利用电子系统的可测性分析方法,从电子系统的故障模式与机理着手,构建了基于测试性的电子系统故障预测方法的框架.综述了国内外故障预测方法的研究现状并进行分类与总结,从基于模型和基于数据驱动2个方面论述了电子系统故障预测方法.最后分析了电子系统故障预测技术存在的问题和难点,展望了该领域未来的发展趋势.

关 键 词：电子系统 故障预测 PHM

分 类 号：TP271.5] TN06]