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期刊文章详细信息

光学综合孔径干涉成像技术  ( EI收录)  

Optical synthesis aperture interference image technology

  

文献类型:期刊文章

作  者:王海涛[1] 周必方[1]

机构地区:[1]国家天文台南京天文光学技术研究所,江苏南京210042

出  处:《光学精密工程》

基  金:中国科学院重点项目基金 ;86 3基金资助课题

年  份:2002

卷  号:10

期  号:5

起止页码:434-442

语  种:中文

收录情况:AJ、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘  要:闭合相位技术、U_V覆盖技术和像重构技术是光学综合孔径干涉成像的三个关键技术。文中详细介绍了闭合相位技术的原理、U_V覆盖技术 (包括即时覆盖和通过孔径旋转的非即时覆盖两种方法 )和用于图像重构的常用方法以及用于光学综合孔径像重构的混合迭代方法 ,最后讨论了光学综合孔径干涉成像技术的应用。

关 键 词:光干涉 光学综合孔径  图像重构 闭合相位  U-V覆盖  光学成像

分 类 号:O436.1]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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