期刊文章详细信息
测试系统中干扰及其形成机理
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]长沙大学电子技术与应用物理系,410003
年 份：2002
卷 号：28
期 号：10
起止页码：44-46
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX2000、DOAJ、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊
摘 要：阐述了测试系统中的各类干扰,并对其产生的原因作了较详细的分析。针对干扰的特性,指出了它们的危害范围及程度,以便于对其进行抑制,增强抗干扰的效果。
关 键 词：形成机理 测试系统 干扰 干扰源 放电干扰 弧光放电 火花放电 工频干扰
分 类 号：TM930.11]
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