期刊文章详细信息
电子元器件加速寿命试验综述
Review of Accelerated Life Test for Electronic Components
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]苏州市电通电力电子有限公司,苏州215011 [2]中国科学院等离子体物理研究所,合肥230031
年 份：2018
期 号：11
起止页码：21-26
语 种：中文
收录情况：内刊
摘 要：加速寿命试验是一种可在短时间内获得产品失效数据的方法。本文综述了加速寿命试验的前提、寿命分布、加速应力、加速模型、加速因子和加速寿命试验分类。通过恒定应力加速寿命试验实例,推算产品正常应力下的寿命特征值。
关 键 词：电子元器件 加速寿命试验 综述
分 类 号：TN06]
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