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期刊文章详细信息

IEC火花试验装置检验容性电路的新途径    

A New Way of Spark Test Device Proven Capacitive Circuit in IEC Standard

  

文献类型:期刊文章

作  者:付淑玲[1]

机构地区:[1]国家煤矿防爆安全产品质量监督检验中心,辽宁抚顺113001

出  处:《电气防爆》

年  份:2002

期  号:3

起止页码:35-37

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:目前 ,利用“IEC本安电路火花试验装置” ,对时间常数较大的电容性电路试验 ,在多数情况下都采用拔钨丝根数来实现。经过近十多年的实际运行表明 ,这种简单的替代可能降低了试验电容性电路的灵敏度。本文通过对阻容性电路的充放电时间及IEC火花试验装置打火间隔的理论分析和计算 ,找出了灵敏度低的原因 ,并探讨了在不影响IEC火花试验装置性能指标的前提下 ,试验电容性电路的新途径。

关 键 词:IEC火花试验装置  检验  电容性电路  电子电路

分 类 号:TN710]

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