文献类型：期刊文章

作　　者：杨滴[1] 周凯[1] 陶霰韬[1] 陶文彪[1] 尧广[2]

机构地区：[1]四川大学电气信息学院,成都610065 [2]四川省泸州电业局,泸州646000

出　　处：《电工技术学报》

年　　份：2015

卷　　号：30

期　　号：1

起止页码：228-234

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2014、CSCD、CSCD2015_2016、EI(收录号：20150500468931)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：针对XLPE电缆绝缘层水树区修复前后的微观结构变化,本文主要利用红外光谱检测技术(Fourier Transform Infrared Spectroscopy,FTIR)观测新样本、老化样本和修复样本分子结构的变化,并阐明其变化原因。老化样本的红外光谱检测结果显示老化样本中水树区甲基(—CH3)、羟基(—OH)基团含量增加,C=O键吸收峰强度加强。说明在电缆老化过程中,电缆XLPE绝缘层存在分子键断裂和氧化降解。而在修复样本的红外光谱中,发现甲基、羟基和C=O键吸收峰强度明显地减弱,C-Si键吸收峰的强度略微增强。同时,利用扫描电镜(SEM)和X射线能谱分析仪对修复样本水树区进行分析,发现水树区中硅元素的原子百分比和重量百分比增加。即修复后电缆水树区的化学元素含量和分子结构发生改变,从而影响了电缆绝缘性能。

关 键 词：红外光谱 老化  硅氧烷 电缆修复  分子结构

分 类 号：TM24[材料类]