文献类型：期刊文章

作　　者：张元涛[1,2,3] 曹开钦[1,2] 孙德新[1,2,3,4] 刘银年[1,2,3,4]

Zhang Yuantao;Cao Kaiqin;Sun Dexin;Liu Yinnian(Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences,Shanghai 200083,China;Key Laboratory of Infrared System Detection and Imaging Technologies,Chinese Academy of Sciences,Shanghai 200083,China;University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China;Qidong Optoelectronic Remote Sensing Center,Shanghai Institute of Technical Physics,Chinese Academy of Sciences Qidong,Jiangsu 226200,Chin)

机构地区：[1]中国科学院上海技术物理研究所,上海200083 [2]中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,上海200083 [3]中国科学院大学,北京100049 [4]中国科学院上海技术物理研究所启东光电遥感中心,江苏启东226200

出　　处：《激光与光电子学进展》

基　　金：国家重点研发计划(2016YFB0500400);国家高分辨率对地观测系统重大专项(A0106/1112)

年　　份：2018

卷　　号：55

期　　号：8

起止页码：140-148

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2017、CSCD、CSCD2017_2018、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：分析了基于科学级互补金属氧化物半导体(sCMOS)图像传感器的微光成像系统的噪声特性,建立了系统噪声模型并进行了系统噪声测试。结果显示,系统噪声的均方根值小于1e^-。建立了系统信噪比模型,计算得到微光成像系统在10^(-3) lx的夜天光照条件下的信噪比优于1,理论值与实测值之间的误差小于10%。提出了一种自适应的条纹噪声处理方法,有效消除了低照度图像中的行条纹噪声,采用对比度受限的自适应直方图均衡的方法提升了高动态范围图像的对比度。

关 键 词：探测器 微光探测  微光成像仪  科学级互补金属氧化物半导体(sCMOS)探测器  信噪比  条纹噪声  图像增强

分 类 号：TN223]