文献类型：期刊文章

作　　者：陈曦[1] 郭培基[1] 王伟[1]

CHEN Xi;GUO Peiji;WANG Wei(School of Optoelectmnic Science and Engineering,Key Lab of Advanced Optical Manufacturing Technologies of Jiangsu Province,Key Lab of Modern Optical Technologies of Education Ministry o{ China,Soochow University,Suzhou 215006,China)

机构地区：[1]苏州大学光电科学与工程学院江苏省先进光学制造技术重点实验室教育部现代光学技术重点实验室

出　　处：《光学技术》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(61378055);江苏高校优势学科建设工程资助项目

年　　份：2018

卷　　号：44

期　　号：4

起止页码：400-403

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD_E2017_2018、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：提出了一种使用三坐标测量机（CMM）对自由曲面光学元件表面待加工区域进行标记的方法。针对自由曲面光学元件外形特征设计工件坐标系,规划工件坐标系定位点,通过坐标变换将待加工区域的像素坐标转换为对应的自由曲面工件坐标系的标记点位置坐标,将待加工区域的感兴趣点三维坐标导入CMM,使用CMM对工件坐标系下标记点位置自动探测,实现待加工区域的标记,提高了检测效率也避免人为标记定位误差。

关 键 词：自由曲面 三坐标测量仪 工件坐标系

分 类 号：O439]