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期刊文章详细信息

高精度微电容检测系统的设计    

Design of High Precision Micro-Capacitance Detection System

  

文献类型:期刊文章

作  者:于长兴[1]

YU Chang-xing(Electrical Engineering College of Suihua University,Suihua 152061,Chin)

机构地区:[1]绥化学院电气工程学院,黑龙江绥化152061

出  处:《仪表技术与传感器》

年  份:2018

期  号:6

起止页码:76-78

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2017、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2017_2018、IC、INSPEC、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘  要:针对微弱电容信号检测的问题,设计了一种基于Pcap01芯片的高精度微电容检测系统。系统硬件主要由微电容测量芯片Pcap01、单片机MSP430最小系统以及供电电路组成。系统软件主要实现了微小电容采集、Pcap01与MSP430之间的SPI通讯以及通过RS485通讯将数据发送到上位机界面显示。实验证明,该系统测量电容的误差可以低至4.114 7 f F,具有精度高、抗干扰强等优点。

关 键 词:微电容检测  Pcap01  串行通信 MSP430

分 类 号:TP934[自动化类]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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