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基于Arrhenius模型的星载电子产品加速寿命试验技术
Accelerated life test technology for satellite electronic products based on Arrhenius model
文献类型:期刊文章
WANG Wenping;WANG Xianghui;ZHANG Qingjun;DONG Jie;SHANG Shan;TIAN Wei(Beijing Institute of Spacecraft System Engineering,Beijing 100094,China;Aerospace Long March Launch Vehicle Technology Company,Beijing 100076,China)
机构地区:[1]北京空间飞行器总体设计部,北京100094 [2]航天长征火箭技术有限公司,北京100076
基 金:国家重大科技专项工程
年 份:2018
卷 号:35
期 号:3
起止页码:247-251
语 种:中文
收录情况:JST、ZGKJHX、普通刊
摘 要:为满足"高分三号"卫星8年长寿命在轨数据处理需求,须开展针对数据处理单元(DPU)的可靠性设计验证。针对星载DPU,采用基于阿伦尼斯(Arrhenius)模型的加速因子估计方法进行高温加速寿命试验方案设计与分析,并给出故障判定及处理准则。8年加速寿命试验结果验证了DPU产品各项功能和性能满足技术指标。加速寿命试验技术能够在较短的时间内用较低的成本快速估计星载电子产品的可靠性,在航天产品设计中具有广阔的应用前景。
关 键 词:“高分三号”卫星 数据处理单元 加速寿命试验 Arrhenius模型 可靠性评估
分 类 号:V416.5]
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