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期刊文章详细信息

高纯钼粉中超痕量杂质的质谱分析  ( EI收录)  

Analysis of Ultra-Trace Impurities in High Purity Molybdenum Powder through Inductively Coupled Plasma Tandem Mass Spectrometry

  

文献类型:期刊文章

作  者:符靓[1,2] 施树云[2] 唐有根[2] 王海燕[2]

FU Liang;SHI Shu-yun;TANG You-gen;WANG Hai-yan(Collaborative Innovation Center of Green Development for Wuling Mountain Areas,Yangtze Normal University,Chongqing 408100,China;School of Chemistry and Chemical Engineering,Central South University,Changsha 410083,China)

机构地区:[1]长江师范学院武陵山片区绿色发展协同创新中心,重庆408100 [2]中南大学化学化工学院,湖南长沙410083

出  处:《光谱学与光谱分析》

基  金:国家自然科学基金项目(81603400);重庆市教委科学技术研究重点项目(KJ1601224)资助

年  份:2018

卷  号:38

期  号:8

起止页码:2588-2594

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD2017_2018、EI、IC、INSPEC、JST、PUBMED、RCCSE、RSC、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:建立高纯钼粉中超痕量杂质测定的分析方法。采用电感耦合等离子体串联质谱(ICP-MS/MS)的MS/MS模式,选择H2为反应气,利用H2原位质量法测定Si和Ca;选择O2为反应气,利用O2原位质量法测定Cd,利用O2质量转移法测定P,As,Se,Ta,Sn,Sb,Ba和W;选择NH3/He作为反应气,利用原位质量法测定Na,Mg,Al,K和V,利用质量转移法测定Ti,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn;采用单四极杆(SQ)无气模式测定Pb,Bi,Th和U。与传统的带碰撞/反应池(CRC)电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)相比,各元素的背景等效浓度(BEC)和检出限更低,消除质谱干扰更加彻底。在优化的工作条件下,28种元素的线性相关系数(R^2)≥0.999 7,线性关系良好,检出限为0.04~50.1ng·L^(-1),加标回收率为92.2%~107.4%,相对标准偏差(RSD)≤4.3%,表明所建立的分析方法具有极好的准确性和精密度。实际样品的分析结果显示,方法可用于纯度为5N(≥99.999%)高纯钼粉中28个杂质元素的测定。

关 键 词:电感耦合等离子体串联质谱  高纯钼粉  杂质元素  质量转移  原位质量  

分 类 号:O657.6]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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