期刊文章详细信息
高纯钼粉中超痕量杂质的质谱分析 ( EI收录)
Analysis of Ultra-Trace Impurities in High Purity Molybdenum Powder through Inductively Coupled Plasma Tandem Mass Spectrometry
文献类型:期刊文章
FU Liang;SHI Shu-yun;TANG You-gen;WANG Hai-yan(Collaborative Innovation Center of Green Development for Wuling Mountain Areas,Yangtze Normal University,Chongqing 408100,China;School of Chemistry and Chemical Engineering,Central South University,Changsha 410083,China)
机构地区:[1]长江师范学院武陵山片区绿色发展协同创新中心,重庆408100 [2]中南大学化学化工学院,湖南长沙410083
基 金:国家自然科学基金项目(81603400);重庆市教委科学技术研究重点项目(KJ1601224)资助
年 份:2018
卷 号:38
期 号:8
起止页码:2588-2594
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD2017_2018、EI、IC、INSPEC、JST、PUBMED、RCCSE、RSC、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:建立高纯钼粉中超痕量杂质测定的分析方法。采用电感耦合等离子体串联质谱(ICP-MS/MS)的MS/MS模式,选择H2为反应气,利用H2原位质量法测定Si和Ca;选择O2为反应气,利用O2原位质量法测定Cd,利用O2质量转移法测定P,As,Se,Ta,Sn,Sb,Ba和W;选择NH3/He作为反应气,利用原位质量法测定Na,Mg,Al,K和V,利用质量转移法测定Ti,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn;采用单四极杆(SQ)无气模式测定Pb,Bi,Th和U。与传统的带碰撞/反应池(CRC)电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)相比,各元素的背景等效浓度(BEC)和检出限更低,消除质谱干扰更加彻底。在优化的工作条件下,28种元素的线性相关系数(R^2)≥0.999 7,线性关系良好,检出限为0.04~50.1ng·L^(-1),加标回收率为92.2%~107.4%,相对标准偏差(RSD)≤4.3%,表明所建立的分析方法具有极好的准确性和精密度。实际样品的分析结果显示,方法可用于纯度为5N(≥99.999%)高纯钼粉中28个杂质元素的测定。
关 键 词:电感耦合等离子体串联质谱 高纯钼粉 杂质元素 质量转移 原位质量
分 类 号:O657.6]
参考文献:
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引证文献:
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同被引文献:
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