文献类型：期刊文章

作　　者：高欢[1] 陈文智[2] 姚晔[3] 张南红[1] 汤展峰[1] 辛志远[1] 李静[1] 范恒亮[1] 韩君奇[1] 尹文祥[1]

机构地区：[1]合肥鑫晟光电科技有限公司,安徽合肥230012 [2]群龙企业咨询(上海)有限公司,上海200335 [3]合肥乐凯科技产业有限公司,安徽合肥230041

出　　处：《液晶与显示》

年　　份：2018

卷　　号：33

期　　号：2

起止页码：129-137

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2017、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2017_2018、EBSCO、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：Particle Gap是TFT-LCD制程中常见的一种缺陷。以55UHD产品为例,Particle Gap发生率约为1.0%,对产品良率影响较大,为提升液晶屏品质和客户满意度,急需改善此不良。文章结合不良现象研究Particle Gap的主要异物模式,最终通过改善CF研磨失败异物、沙粒状异物和透明状异物这种模式达到整体Particle Gap降低的效果。首先利用流程图分析影响异物模式的关键步骤,然后通过鱼骨图、决策矩阵、假设检验验证找出影响异物模式的显著因素,最后通过合力促进法总结出显著因素的最佳改善方案,导入量产并文件标准化,可平行推广至55UHD以外的其它尺寸。改善结果表明:通过以上3种异物类型的改善,55UHD Particle Gap发生率降低至少30%,为公司带来了巨大且显著的硬性节省。

关 键 词：薄膜电晶体-液晶显示器  PARTICLE GAP CF研磨失败异物  透明状异物  沙粒状异物  

分 类 号：TN141.9]