期刊文章详细信息
不同粒径磨料对蓝宝石晶片及其抛光过程的影响 ( EI收录)
Effect of Particle Size of Abrasive on Sapphire Wafer Polishing Process
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]长春理工大学,光电功能材料教育部工程研究中心,长春130022 [2]南京京晶光电科技有限公司,南京211100
基 金:吉林省科技厅创新项目(20160414043GH)资助
年 份:2018
卷 号:46
期 号:1
起止页码:59-63
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2017、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2017_2018、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:采用不同粒径的W28和W7碳化硼(B4C)磨料对蓝宝石晶片进行研磨和化学机械抛光。研究了不同粒径的B4C磨料对蓝宝石晶片研磨和化学机械抛光后的移除率、粗糙度、平坦度、弯曲度、翘曲度等参数的影响。结果表明:W28和W7的磨料有不同的研磨和抛光性能,在相同的加工条件下,使用W28的B4C磨料,移除速率较快,但研磨所得蓝宝石晶片的损伤层较深,单面抛光20μm不足以去除其损伤层,抛光后表面划痕较多,粗糙度较大(Ra=1.319 nm,Rt=2.584 nm),表面有明显起伏;而W7磨料的移除速率慢,研磨时间长,在单面抛光移除20μm后其损伤层全部移除,抛光所得蓝宝石晶片平坦度略佳,抛光表面平整,粗糙度较小(Ra=0.194 nm,Rt=0.361 nm),无明显起伏,表面质量相对较高,适于精修平坦度。
关 键 词:蓝宝石 碳化硼磨料 移除速率 损伤层 粗糙度
分 类 号:O786]
参考文献:
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