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期刊文章详细信息

不同粒径磨料对蓝宝石晶片及其抛光过程的影响  ( EI收录)  

Effect of Particle Size of Abrasive on Sapphire Wafer Polishing Process

  

文献类型:期刊文章

作  者:张丽萍[1] 苗如林[1] 沈正皓[1] 郭立[1] 陈庆敏[1] 林海[1] 李春[1] 李建勳[2] 曾繁明[1] 刘景和[1]

机构地区:[1]长春理工大学,光电功能材料教育部工程研究中心,长春130022 [2]南京京晶光电科技有限公司,南京211100

出  处:《硅酸盐学报》

基  金:吉林省科技厅创新项目(20160414043GH)资助

年  份:2018

卷  号:46

期  号:1

起止页码:59-63

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2017、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2017_2018、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:采用不同粒径的W28和W7碳化硼(B4C)磨料对蓝宝石晶片进行研磨和化学机械抛光。研究了不同粒径的B4C磨料对蓝宝石晶片研磨和化学机械抛光后的移除率、粗糙度、平坦度、弯曲度、翘曲度等参数的影响。结果表明:W28和W7的磨料有不同的研磨和抛光性能,在相同的加工条件下,使用W28的B4C磨料,移除速率较快,但研磨所得蓝宝石晶片的损伤层较深,单面抛光20μm不足以去除其损伤层,抛光后表面划痕较多,粗糙度较大(Ra=1.319 nm,Rt=2.584 nm),表面有明显起伏;而W7磨料的移除速率慢,研磨时间长,在单面抛光移除20μm后其损伤层全部移除,抛光所得蓝宝石晶片平坦度略佳,抛光表面平整,粗糙度较小(Ra=0.194 nm,Rt=0.361 nm),无明显起伏,表面质量相对较高,适于精修平坦度。

关 键 词:蓝宝石 碳化硼磨料  移除速率  损伤层 粗糙度  

分 类 号:O786]

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同被引文献:

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