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期刊文章详细信息

基于KDE-FPBT的模拟电路测试性分析与故障诊断方法研究    

Research on testability analysis and fault diagnosis of analog circuits based on KDE-FPBT

  

文献类型:期刊文章

作  者:朱敏[1] 许晴[2] 唐小峰[1,3] 魏洪波[4]

ZHU Min;XU Qing;TANG Xiaofeng;WEI Hongbo(Department of Scientific Research,Naval Aeronautical & Astronautical University, Yantai 264001, China;Unit 91635 of PLA,Beijing 102200, China;Unit 92514 of PLA, Yantai 264007, China;Helicopter Battalion of Armed Police Corps, Deyang 618101, China)

机构地区:[1]海军航空工程学院科研部 [2]91635部队 [3]92514部队 [4]武警四川省总队直升机大队

出  处:《中国测试》

基  金:国家自然科学基金项目(61473306)

年  份:2018

卷  号:44

期  号:2

起止页码:11-15

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2017、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、IC、JST、RCCSE、UPD、ZGKJHX、核心刊

摘  要:针对传统测试性模型故障分辨率低的问题,提出一种基于故障对布尔表的模拟电路测试性分析与故障诊断方法。根据故障对布尔表的特点构建新的测试性模型,研究相应的故障检测率和隔离率预计方法。基于核密度估计实现实数域样本数据到故障对布尔表的转换,并采用"一对一"的投票策略完成对实测数据的故障诊断推理。以Sallen-Key带通滤波电路为例开展仿真实验,通过与经典的相关性模型以及整数编码字典进行比较,表明所提方法具有更加突出的故障检测与隔离能力。

关 键 词:模拟电路 测试性分析 故障诊断 故障对布尔表  核密度估计

分 类 号:TN710]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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