文献类型：期刊文章

作　　者：商景诚[1] 吴涛[1] 何兴道[1] 杨传音[1]

Shang Jing-Cheng;Wu Tao;He Xing-Dao;Yang Chuan-Yin(Jiangxi Engineering Laboratory for Optoelectronic Testing Technology, National Engineering Laboratory for Non-Destructive Testing and Optoelectronic Sensing Technology and Application, School of Measuring and Optical Engineering, Nanchang Hangkong University, Nanchang 330063, Chin)

机构地区：[1]南昌航空大学测试与光电工程学院,江西省光电检测技术工程实验室,无损检测与光电传感技术及应用国家地方联合工程实验室,南昌330063

出　　处：《物理学报》

基　　金：国家自然科学基金(批准号：41665001,61177096)和航空科学基金(批准号：2015ZC56006)资助的课题.

年　　份：2018

卷　　号：67

期　　号：3

起止页码：193-200

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD2017_2018、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：气体压力是描述体系状态的重要参数,许多物理、化学性质都与压力有关.传统侵入式的压力测量方法会对气体状态产生干扰,影响测量精度,因此需要一种无扰式的测量方法.本实验测量了压强为2,4和6 atm(1 atm=1.01325×10~5 Pa)下加入气溶胶的N2在90?散射方向的自发瑞利-布里渊散射光谱,利用卷积后的Tenti S6模型对测量光谱进行直接拟合,拟合得到的压强值总体误差小于6.0%,求和归一化的均方根误差总体小于6.5%;利用理想的Tenti S6模型对经维纳滤波器反卷积处理后的测量光谱进行拟合,拟合得到的压强值误差总体小于5.0%,求和归一化的均方根误差总体小于6.0%.通过对两种方法的详细对比,发现压强低于2 atm时,对测量光谱进行反卷积处理在一定程度上可以消除仪器函数的影响,提高测量光谱的准确性,其光谱拟合效果和压强反演精度要优于卷积光谱.而在压强高于2 atm的情况下,卷积光谱的拟合效果和压强反演精度要优于反卷积光谱.

关 键 词：瑞利散射 布里渊散射 反卷积 压强反演  

分 类 号：O437.2]