文献类型：期刊文章

作　　者：文常保[1] 吴忠秉[1] 雪程飞[1] 姚世朋[1] 李演明[1] 李阳[1] 王澄宇[1]

机构地区：[1]长安大学电子与控制工程学院微纳电子研究所,西安710064

出　　处：《实验室研究与探索》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60806043);陕西省自然科学基础研究计划资助项目(2015JM6271);全国大学生创新创业训练项目(201510710038和201510710035);中央高校教育教学改革专项经费资助(310632176401和310632171512)

年　　份：2017

卷　　号：36

期　　号：11

起止页码：11-14

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2014、CAS、JST、RCCSE、UPD、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：针对目前利用逻辑分析仪对FPGA进行测试时,各待测信号之间出现干扰现象及利用差分方式测量时浪费FPGA的I/O引脚资源的问题,提出了一种用于逻辑分析仪的FPGA测试接口电路实现方案。该方案由信号输入接口模块、单端信号转差分信号模块和信号输出接口模块组成。信号输入接口模块完成FPGA和测试接口电路之间的信号传输工作,单端信号转差分信号模块把单端信号转换成差分信号,信号输出接口模块将转换完成后的信号输出给逻辑分析仪。通过一个具体的FPGA信号测试实验表明,在采样深度分别为1、8、32 KB时,使用测试接口电路比没有使用时的测量相对误差分别减少了87.3%、90.2%、88.6%。

关 键 词：现场可编程门阵列 逻辑分析仪 测试接口电路  

分 类 号：TH89[仪器类] TN98]