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面曝光3D打印机光强检测补偿系统研究与实现 ( EI收录)
Measurement and Compensation of DLP Projector Light Intensity for Mask Projection Stereolithography
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]西安交通大学机械工程学院,西安710049 [2]苏州秉创科技有限公司,江苏苏州215152
基 金:国家自然科学基金资助项目(51375372)
年 份:2017
卷 号:51
期 号:8
起止页码:77-83
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2014、CAS、CSCD、CSCD2017_2018、EI、IC、JST、MR、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊
摘 要:针对面曝光3D打印设备投影仪光强分布不匀的问题,提出了一套完整的修正方案,通过在上位机软件中添加灰度掩膜的方式实施光强补偿。利用紫外光传感器、Arduino控制板、步进电机等搭建自动化数据采集设备;设计算法剔除测量误差,提升传感器测量精度至±10-5 W/cm2。本系统可根据传感器反馈逼近直接获取离散的补偿掩膜灰度数据,建立灰度分布数学模型并利用Qt setPixel函数完成掩膜绘制,在简化计算、提高校准效率方面效果显著。经仪器检测及实际打印验证,提出的投影仪光强检测及补偿方案能够有效消除数字投影仪光强分布误差,将所测投影仪光强极差由5×10-4 W/cm2缩小至5×10-5 W/cm2以下。对于文中选用的树脂材料,可在0.1mm成形精度等级降低投影仪光强不匀造成的负面影响。
关 键 词:面曝光3D打印 DLP投影仪 光强补偿
分 类 号:TH164]
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