文献类型：期刊文章

作　　者：彭子健[1] 张也[1] 付强[1] 李唐兵[2] 万亚玲[1] 郭良[1] 姚建刚[1]

机构地区：[1]湖南大学电气与信息工程学院,湖南省长沙市410082 [2]国网江西省电力科学研究院,江西省南昌市330096

出　　处：《电网技术》

基　　金：江西省电力公司科技项目(52182015000P)~~

年　　份：2017

卷　　号：41

期　　号：11

起止页码：3705-3712

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2014、CSCD、CSCD2017_2018、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：为提高红外成像法检测劣化绝缘子的准确性,提出一种基于电网络法的红外热像检测盲区分析方法。根据绝缘子串电压分布,结合绝缘子的发热模型,对比了理想条件下和存在测量误差时的红外热像检测盲区,并就盲区绝缘子对绝缘子串整体温升的影响进行了分析。仿真和试验结果表明:红外热像检测盲区的大小由绝缘子在串中的位置和测量误差决定,绝缘子串两端的绝缘子处于盲区时,对整串绝缘子存在明显的温升抬升效应。根据仿真及试验所得的规律,提出减少红外热像检测盲区的措施,为绝缘子劣化检测提供参考和方法借鉴。

关 键 词：瓷绝缘子 红外热像 电网络法 分布电压 检测盲区  发热模型  

分 类 号：TM721]