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X射线衍射仪和X荧光光谱仪在钛白粉分析中的应用
Application of X-ray Diffractometer and X-ray Fluorescence Spectrometer in Titanium Dioxide Analysis
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]云南冶金新立钛业有限公司,昆明650100
基 金：云南省科技计划项目(2015IB009);省院省校科技合作项目(2015IC052)
年 份：2017
卷 号：32
期 号：7
起止页码：63-66
语 种：中文
收录情况：CAS、普通刊
摘 要：钛白粉是目前用途最广泛、应用效果最好的无机白色颜料,借助仪器分析可以快速对钛白粉样品进行直观表征。X射线衍射仪(XRD)和X荧光光谱仪(XRF)在分析钛白粉晶体类型和元素组成等方面有着重要应用。对XRD和XRF在钛白粉分析中的应用进行简要概述。
关 键 词：钛白粉 X射线衍射仪 X荧光光谱仪 微量元素 晶体类型
分 类 号：TQ630.72]
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