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电压检测芯片失效分析
Failure Analysis of Voltage Detection Chip
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610 [2]宁波赛宝信息产业技术研究院有限公司,浙江宁波315040 [3]工业和信息化部电子第五研究所华东分所,江苏苏州215011
年 份：2017
卷 号：35
期 号：4
起止页码：49-56
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：近年来,随着智能电表的广泛使用,其质量和可靠性问题受到了人们越来越多的关注。但是,由于各种原因,产品投入市场后仍会出现各种失效现象。因此,对某智能电表的电压检测芯片的失效现象进行了分析,通过外观检查、电参数测试和X-射线测试等手段找到了该芯片的失效原因,并针对发现的问题提出了相应的改进意见。
关 键 词：智能电表 电压检测芯片 失效分析 外观检查 电参数测试
分 类 号：TM933.4]
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