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晶体硅光伏组件热斑失效问题研究 ( EI收录)
THE STUDY ON HOT SPOTS FAILURE OF POLYCRYSTALLINE WAFER BASED PHOTOVOLTAIC MODULES
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]华东师范大学信息科学与技术学院极化材料与器件教育部重点实验室,上海200241 [2]光伏科学与技术国家重点实验室常州天合光能有限公司,常州213031
年 份:2017
卷 号:38
期 号:7
起止页码:1854-1861
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2014、CAS、CSCD、CSCD2017_2018、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:以不同反向漏电流等级的多晶硅太阳电池封装成的光伏组件和实际发生热斑失效的光伏组件为研究对象,通过数值模拟和实验研究的方法,对晶体硅光伏组件热斑失效的机理和规律进行理论分析与实验验证。研究结果表明:在阴影遮挡环境下被遮挡组件区域温度和太阳电池反向电流成正向相关性,即反向漏电流越大,组件温度越高;实验同时发现即使在完全无阴影遮挡的情况下,光伏组件也可能因组件封装过程中存在虚焊、空焊等接触不良连接点,形成微小间隙,引发电弧效应,从而导致严重的热斑失效。
关 键 词:光伏组件 热斑失效 反向漏电流 接触不良 电弧效应
分 类 号:TK51]
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