期刊文章详细信息
集成电路测试系统时间参数测试能力比对
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]工业和信息化部电子工业标准化研究院
年 份：2017
期 号：7
起止页码：24-27
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：本文结合集成电路测试系统时间参数测试能力比对，对比对过程中所采用的标准和测试方法、被测件的制备及其稳定性考核、比对实施方案的制定、比对结果的评价方法等关键内容进行了详细描述，为集成电路测试系统时间参数的量值溯源提供了一种有效的方法。
关 键 词：集成电路测试系统 时间参数 被测件 比对实施方案
分 类 号：TN407]
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