文献类型：期刊文章

作　　者：伍秀玭[1,2] 高万荣[1,2] 张运旭[1,2] 何勇[1,2]

机构地区：[1]南京理工大学电子工程与光电技术学院光学工程系,江苏南京210094 [2]南京理工大学先进固体激光工业和信息化部重点实验室,江苏南京210094

出　　处：《中国激光》

基　　金：国家自然科学基金(61275198;60978069;11473017)

年　　份：2017

卷　　号：44

期　　号：6

起止页码：157-164

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2014、CAS、CSCD、CSCD2017_2018、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：提出了一种基于频域光学相干层析成像(SDOCT)技术的非破坏性玻璃亚表面缺陷(SSDs)定量检测新方法,描述了所搭建SDOCT系统的成像原理和特性,给出了所重建的玻璃SSDs二维和三维图像。利用所获得的图像,可以定量获得玻璃SSDs的深度、尺寸和形状。该研究结果对光学零件的加工和应用具有重要意义。

关 键 词：材料  频域光学相干层析成像术  玻璃亚表面缺陷  非破坏性检测  定量检测  

分 类 号：TH741]