文献类型：期刊文章

作　　者：朱荣华[1] 尹元杰[1] 谢惠民[1] 刘应华[1]

机构地区：[1]清华大学航天航空学院应用力学教育部重点实验室,北京100084

出　　处：《实验力学》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(批准号:11672153;11232008)

年　　份：2017

卷　　号：32

期　　号：2

起止页码：145-151

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2014、CSCD、CSCD2017_2018、核心刊

摘　　要：本文结合聚焦离子束-电子束(Focused ion beam-electron beam,简称FIB-EB)双束系统和真空镀膜工艺,进行微区散斑的制备工艺研究,并将所发展的微散斑制备工艺应用于喷丸镍基合金材料表面制斑,进而结合切槽法进行残余应力高温释放规律的测量研究。在FIB-EB双束系统下记录切槽前后制斑微区的图像,利用数字图像相关法计算切槽后的位移,结合InglisMuskhelishvili理论公式可计算得到残余应力。文中研究了不同温度及保温时间对残余应力释放的影响规律。结果表明,残余应力随保温时间的增长释放速度逐渐减小,最后残余应力趋于稳定值。同时,温度越高,残余应力释放越彻底,800℃下近乎完全释放。该工艺具有适用性好,效率高等优点,可望在材料微区变形测量中得到进一步应用。

关 键 词：聚焦离子束 微散斑  微区变形  残余应力

分 类 号：O348.5]