文献类型：期刊文章

作　　者：甘婷婷[1,2] 赵南京[1] 殷高方[1] 肖雪[1] 张玉钧[1] 章炜[3] 刘建国[1] 刘文清[1]

机构地区：[1]中国科学院安徽光学精密机械研究所中国科学院环境光学与技术重点实验室安徽省环境光学监测技术重点实验室,安徽合肥230031 [2]皖江新兴产业技术发展中心,安徽铜陵244000 [3]解放军陆军军官学院,安徽合肥230031

出　　处：《光谱学与光谱分析》

基　　金：皖江新兴产业技术发展中心企业合作项目(ZNJX-15-01);国家(863)计划项目(2013AA065502);安徽省科技攻关计划项目(1501041119);安徽省科技重大专项项目(15CZZ04125)资助

年　　份：2017

卷　　号：37

期　　号：6

起止页码：1912-1918

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2014、CAS、CSCD、CSCD2017_2018、EI、IC、JST、PUBMED、RCCSE、SCI-EXPANDED(收录号：WOS:000403036200048)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：以氢氧化钠和硫化钠为沉淀剂采用共沉淀法同时富集水体中的Cr,Cd和Pb,通过对Cr(OH)3,Cd(OH)2和PbS沉淀均匀悬浮液抽滤以制成Cr,Cd和Pb均匀分布的薄膜样品并进行能量色散XRF光谱测量,以实现水体中Cr,Cd和Pb的同时快速分析与检测。研究了富集过程中的反应时间和反应物摩尔比对薄膜样品XRF光谱强度的影响,确定了富集过程的最佳反应条件为沉淀反应时间为5min,OH-与Cr3+的最佳摩尔比为5.0,OH-与Cd2+的最佳摩尔比为5.0,S2-与Pb2+的最佳摩尔比为2;对富集后不同浓度的薄膜样品进行了均匀性检验,富集区域6个不同位置荧光强度的相对标准偏差均小于4.8%,说明富集后的薄膜样品具有较好的均匀性;将不同浓度薄膜样品的理论浓度值与ICP-MS方法测得的浓度值进行对比分析,验证了该富集方法对水样中Cr,Cd和Pb的富集率均能达到90%以上;根据薄膜样品的荧光强度与ICP-MS测得的浓度值,建立了基于该富集方法的水体中Cr,Cd和Pb的X射线荧光光谱定量分析方法,Cr,Cd和Pb校准曲线的线性相关系数分别为0.997 3,0.995 0和0.999 8,当实际采集水样体积为50mL时,Cr,Cd和Pb的检出限分别为7.4,29.6和8.5μg·L^(-1),均低于《污水综合排放标准GB 8978—1996》中Cr,Cd和Pb的最高允许排放浓度,因此该方法能够实现工业生产及生活排放污水中Cr,Cd和Pb的同时快速分析与检测。该研究为基于X射线荧光光谱法的水体多种重金属同时快速在线监测提供依据。

关 键 词：X射线荧光 重金属  共沉淀 膜富集  同时快速检测  

分 类 号：O657.3]