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期刊文章详细信息

SF6断路器动态接触电阻测量方法及影响因素  ( EI收录)  

Measurement Method and Influencing Factors of the Dynamic Contact Resistance of SF_6 Circuit Breakers

  

文献类型:期刊文章

作  者:傅中[1,2] 陈维江[3] 李志兵[4] 刘北阳[4] 邢高启[5] 李宾宾[2]

机构地区:[1]华北电力大学电气与电子工程学院,北京102206 [2]国网安徽省电力公司电力科学研究院,合肥230022 [3]国家电网公司,北京100031 [4]中国电力科学研究院,北京100192 [5]北京交通大学电气工程学院,北京100044

出  处:《高电压技术》

基  金:国家电网公司科技项目(52120016000W)~~

年  份:2017

卷  号:43

期  号:5

起止页码:1535-1542

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2014、CAS、CSCD、CSCD2017_2018、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:动态接触电阻测量是反映SF_6断路器弧触头侵蚀状态的有效方法,但测量时影响因素较多,因而研究这些影响因素对准确分析弧触头侵蚀状态非常重要。通过建立动态接触电阻测量回路与SF_6断路器试验模型,研究了测量电流、电源型式、电弧烧蚀及断路器分闸速度对动态接触电阻的影响。研究结果表明:为获得稳定而准确的动态接触电阻,测量电流应大于1 000 A;超级电容器与蓄电池均可作为测量的电源,蓄电池输出电流更稳定;30 kA比10 kA试验电流下电弧烧蚀更严重,100次试验后动态接触电阻分别增大169.9μ?与11.9μ?;当测量电流较大时,断路器分闸速度在4.4~8.43 m/s之间变化对动态接触电阻影响较小,最大相差15.6μ?。

关 键 词:SF6断路器 弧触头  动态接触电阻  测量电流 分闸速度 电源型式  电弧烧蚀  

分 类 号:TM561.3]

参考文献:

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同被引文献:

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