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文献类型:期刊文章
SUN Weimin LI Zhigang AN Bing ZHANG Chao KONG Lingyu SUN Yiling(Maintenance Branch Company, Jibei Electric Power Co., Ltd., Beijing 102488, China North China Electric Power Research Institute Co. Ltd., Beijing 100045, China LangFang Power Bureau, Jibei Electric Power Co., Ltd., Hebei Langfang 065000, China Qinghuangdao Power Bureau, Jibei Electric Power Co., Ltd., Hebei Qinghuangdao 066000, China)
机构地区:[1]冀北电力有限公司检修分公司,北京102488 [2]华北电力科学研究院有限责任公司,北京100045 [3]冀北电力有限公司廊坊供电公司,河北廊坊065000 [4]冀北电力有限公司秦皇岛供电公司,河北秦皇岛066000
年 份:2017
卷 号:40
期 号:2
起止页码:39-42
语 种:中文
收录情况:普通刊
摘 要:分析GIS设备常见绝缘缺陷和诱发原因,探讨特高频检测原理和定位方法,结合实例对检测流程、分析思路进行介绍,为GIS设备局部放电带电检测工作提供参考。文中运用特高频法对一起GIS设备内部局部放电缺陷进行检测,通过时差法、声电联合法精准定位放电源,并结合超声波法、气体组分分析、红外热成像等多种手段对缺陷进行了综合分析。实例证明了特高频法能够有效地发现GIS设备内部存在的局部放电缺陷。
关 键 词:GIS设备 局部放电 特高频法 放电定位
分 类 号:TM595] TM855
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