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期刊文章详细信息

基于黑匣子的门电路逻辑功能测试实验设计    

Experimental design of logic function test of gate circuit based on black box

  

文献类型:期刊文章

作  者:梁丽勤[1] 徐天运[2] 张宝健[2] 才溪[3]

机构地区:[1]东北大学秦皇岛分校实验教育中心,河北秦皇岛066004 [2]东北大学秦皇岛分校控制工程学院,河北秦皇岛066004 [3]东北大学秦皇岛分校计算机与通信工程学院,河北秦皇岛066004

出  处:《实验技术与管理》

基  金:国家自然科学基金项目"基于视觉的智能健康监护关键技术研究"(61601108)资助

年  份:2017

卷  号:34

期  号:3

起止页码:173-175

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2014、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、IC、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘  要:设计了基于黑匣子的门电路逻辑功能测试实验,同时设计了黑匣子实验模块及其保护电路等装置。学生通过设计实验电路、测量实验数据,利用所学逻辑知识推理得出黑匣子内部所用74LS系列的二输入门电路芯片类型。学生实验的兴趣和实验效果得到提高,在数字电子技术基础实验教学中具有重要的意义。

关 键 词:综合设计性实验 黑匣子实验模块  保护电路

分 类 号:TN79]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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