文献类型：期刊文章

作　　者：周帅[1] 郑大勇[1] 欧熠[2] 陈海鑫[1]

机构地区：[1]工业和信息化部电子第五研究所,广州510610 [2]中国电子科技集团公司第四十四研究所,重庆400065

出　　处：《电子器件》

基　　金：广东省自然科学基金项目(2015A030310331;2015A030306002)

年　　份：2016

卷　　号：39

期　　号：6

起止页码：1292-1296

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2014、CAS、INSPEC、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：根据气密封装器件的内部气体流动原理,对光电耦合器内部气氛含量的初始状态进行了分析,对长期贮存的变化状态进行了预测,随后采用内部气氛分析仪验证预测结果,证明了气体流量原理能够有效预测光电耦合器封装内部的气氛含量,并且能够将封装工艺的薄弱环节暴露在检测初始阶段。通过分析测量漏率与真实漏率之间的关系,对提高预测光电耦合器内部气氛含量长期贮存变化的准确性提出了建议。

关 键 词：光电耦合器 长期贮存  气体流动原理  内部气氛变化  

分 类 号：TN307]