文献类型：期刊文章

作　　者：王文和[1,2] 王昌酉[3] 沈溃领[1]

机构地区：[1]重庆科技学院安全工程学院,重庆401331 [2]重庆市安全生产科学研究院,重庆401331 [3]重庆科技学院法政与经贸学院,重庆401331

出　　处：《材料保护》

基　　金：国家自然科学基金项目(51304259;51254001);重庆科技学院研究生科技创新项目(YKJCX2014029)资助

年　　份：2016

卷　　号：49

期　　号：12

起止页码：64-68

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2014、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2015_2016、JST、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：介绍了扫描开尔文探针(SKP)和局部电化学阻抗谱(LEIS)两种先进的微区电化学测量技术的原理和优点以及目前主要的应用领域,综述了两种技术在缝隙腐蚀、点蚀和孔蚀、微生物菌腐蚀以及其他类型腐蚀研究中的应用进展。结果表明,两种测量技术对宏观的电化学测量技术有着很好的补充和完善作用。展望了两种技术的未来发展趋势。

关 键 词：SKP  LEIS 缝隙腐蚀  点蚀 孔蚀 微生物腐蚀

分 类 号：TG174.3]