文献类型：期刊文章

作　　者：杨玉萍[1] 字正华[2] 钟辉[3] 江学军[4] 李大庆[5] 刘剑[1] 赵远荣[1]

机构地区：[1]国营第二九八厂 [2]昆明物理研究所 [3]中国人民解放军78336部队 [4]陆军重庆军事代表局驻昆明地区军事代表室 [5]中国人民解放军63963部队

出　　处：《红外技术》

基　　金：国防技术基础科研项目(H092013A009)

年　　份：2016

卷　　号：38

期　　号：12

起止页码：1078-1081

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2014、CSCD、CSCD2015_2016、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：采取自然环境试验和实验室霉菌试验相结合的方法,研究霉菌对Ge、ZnS和ZnSe镀增透膜和碳膜的影响。通过显微镜和扫描电镜对霉菌试验结果进行观察和检测。试验结果表明:未镀膜的Ge、ZnS和ZnSe材料抗霉能力较强;增透膜和碳膜抗霉能力较弱,容易长霉,其主要长霉原因是增透膜和碳膜为霉菌生长提供了营养成分。

关 键 词：Ge  ZNS ZNSE 增透膜 碳膜 霉菌

分 类 号：TN213]